化学品概述
银灰色质软的易熔金属。熔点156.61℃。沸点2060℃。相对密度d207.30。溶于浓无机酸,极微溶于氢氧化钠溶液,不溶于水。在地壳中含量为10-5%,铟单独的矿物极少,绝大多数伴生于锡、铅、锑、锌等矿中。。铟粉末在明火, 高热情况下易燃; 燃烧产生有毒铟氧化物烟雾
基本信息
- 中文名称:
- 中文别名:
- 英文名称:
- 英文别名:
- 分子式:
- 分子量:
- CAS:
- EINECS编号:
- MDL编号:
- 精确质量:
- InChI:
- InChI Key:
- MOL文件:
- PSA:
- LogP:
- FEMA编码:
- COE编码:
理化性质
-
外观性质:
wire;White
-
熔点:
156 °C
-
沸点:
2000 °C
-
密度:
7.3 g/mL at 25 °C(lit.)
- 折射率:
- 比旋光度:
-
闪点:
2072°C
-
溶解性:
2072°C
-
酸度系数(pKa):
insoluble
- 相对极性:
- PH值:
- 爆炸极限值(explosive limit):
- 敏感性:
-
储存条件:
Flammables area
- 检测方法:
-
蒸气压:
<0.01 mm Hg ( 25 °C)
-
Merck:
14,4947
- BRN:
-
NIST化学物质信息:
http://webbook.nist.gov/cgi/cbook.cgi?ID=7440-74-6&Units=SI
-
EPA化学物质信息:
http://iaspub.epa.gov/sor_internet/registry/substreg/searchandretrieve/advancedsearch/search.do?search=?search=&searchCriteria(advancedCriteria)=casNumber=7440-74-6
安全信息
-
危化品标志:
C,Xn,F,Xi
-
危化代码:
25-26-34-36/37/38-20/21/22-20-11-36/38
-
安全代码:
9-16-36/37/39-36-26-45-28
- 海关编码/HS编码:
-
危化品运输编码:
UN 3089 4.1/PG 2
-
WGK Germany:
3
-
RTECS:
NL1050000
-
TSCA:
Yes
-
危化等级:
8
-
包装类别:
III
-
毒理资料:
剧毒
-
灭火剂:
干粉、泡沫、砂土、二氧化碳, 雾状水
应用领域
用于化合物半导体,高纯合金及半导体材料的掺杂剂等。用于低熔点合金和铟盐的制造主要用于制轴承及提炼高纯铟,也用于电子和电镀工业主要用于制轴承及提炼高纯铟,也用于电子工业和电镀工业主要用作包覆层(或制成合金)以增强金属材料的耐腐蚀性,并广泛用作电子器件。合金涂层作反射器。铟合金用作反应堆控制棒等。磷化铟锑化铟等都是半导体材料。
制备方法/合成路线
工业生产是从铅、锌、锑、锡等生产中的各种废料和中间产物,经氧化富集、萃取、置换和电解等工艺过程制得。
参考资料
- In; at. wt 114.818; at. no. 49; valence 3, 2, 1. Group IIIA(13). Natural isotopes: 115 (95.77%); 113 (4.23%); 115In is a b- emitter, T½ 6 ´ 1014 years. Artificial radioactive isotopes: 107-112; 114; 116-124. Occurrence in the earth's crust: 1 ´ 10-5%. Discovered in sphalerite ore by Reich and Richter in 1863. Generally found in zinc blendes. Monograph: M. T. Ludwick, Indium (Indium Corp. of America, Utica, N.Y., 1950). Review: Wade, Banister in Comprehensive Inorganic Chemistry vol. 1, J. C. Bailar, Jr. et al., Eds. (Pergamon Press, Oxford, 1973) pp 997-1000, 1065-1117; E. F. Milner, C. E. T. White in Kirk-Othmer Encyclopedia of Chemical Technology vol. 13 (Wiley-Interscience, New York, 3rd ed., 1981) pp 207-212.
- MSDS
图谱
计算化学数据
- 疏水参数计算参考值(XlogP):
- 氢键供体数量 :
- 氢键受体数量:
- 可旋转化学键数量:
- 拓扑分子机型表面积(TPSA) :
- 重原子数量:
- 形式电荷:
- 复杂度:
- 同位素原子数量:
- 确定原子立构中心数量:
- 不确定原子立构中心数量:
- 确定化学键立构中心数量:
- 不确定化学键立构中心数量:
- 共价键单元数量: