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化学品概述

银灰色质软的易熔金属。熔点156.61℃。沸点2060℃。相对密度d207.30。溶于浓无机酸,极微溶于氢氧化钠溶液,不溶于水。在地壳中含量为10-5%,铟单独的矿物极少,绝大多数伴生于锡、铅、锑、锌等矿中。。铟粉末在明火, 高热情况下易燃; 燃烧产生有毒铟氧化物烟雾

基本信息

  • 中文名称:

  • 中文别名:

  • 英文名称:

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  • 分子式:

  • 分子量:

  • CAS:

  • EINECS编号:

  • MDL编号:

  • 精确质量:

  • InChI:

  • InChI Key:

  • MOL文件:

  • PSA:

  • LogP:

  • FEMA编码:

  • COE编码:

理化性质

  • 外观性质:

    wire;White

  • 熔点:

    156 °C

  • 沸点:

    2000 °C

  • 密度:

    7.3 g/mL at 25 °C(lit.)

  • 折射率:

  • 比旋光度:

  • 闪点:

    2072°C

  • 溶解性:

    2072°C

  • 酸度系数(pKa):

    insoluble

  • 相对极性:

  • PH值:

  • 爆炸极限值(explosive limit):

  • 敏感性:

  • 储存条件:

    Flammables area

  • 检测方法:

  • 蒸气压:

    <0.01 mm Hg ( 25 °C)

  • Merck:

    14,4947

  • BRN:

  • NIST化学物质信息:

    http://webbook.nist.gov/cgi/cbook.cgi?ID=7440-74-6&Units=SI

  • EPA化学物质信息:

    http://iaspub.epa.gov/sor_internet/registry/substreg/searchandretrieve/advancedsearch/search.do?search=?search=&searchCriteria(advancedCriteria)=casNumber=7440-74-6

安全信息

  • 危化品标志:

    C,Xn,F,Xi

  • 危化代码:

    25-26-34-36/37/38-20/21/22-20-11-36/38

  • 安全代码:

    9-16-36/37/39-36-26-45-28

  • 海关编码/HS编码:

  • 危化品运输编码:

    UN 3089 4.1/PG 2

  • WGK Germany:

    3

  • RTECS:

    NL1050000

  • TSCA:

    Yes

  • 危化等级:

    8

  • 包装类别:

    III

  • 毒理资料:

    剧毒

  • 灭火剂:

    干粉、泡沫、砂土、二氧化碳, 雾状水

应用领域

用于化合物半导体,高纯合金及半导体材料的掺杂剂等。用于低熔点合金和铟盐的制造主要用于制轴承及提炼高纯铟,也用于电子和电镀工业主要用于制轴承及提炼高纯铟,也用于电子工业和电镀工业主要用作包覆层(或制成合金)以增强金属材料的耐腐蚀性,并广泛用作电子器件。合金涂层作反射器。铟合金用作反应堆控制棒等。磷化铟锑化铟等都是半导体材料。

制备方法/合成路线

工业生产是从铅、锌、锑、锡等生产中的各种废料和中间产物,经氧化富集、萃取、置换和电解等工艺过程制得。

参考资料

  • In; at. wt 114.818; at. no. 49; valence 3, 2, 1. Group IIIA(13). Natural isotopes: 115 (95.77%); 113 (4.23%); 115In is a b- emitter, T½ 6 ´ 1014 years. Artificial radioactive isotopes: 107-112; 114; 116-124. Occurrence in the earth's crust: 1 ´ 10-5%. Discovered in sphalerite ore by Reich and Richter in 1863. Generally found in zinc blendes. Monograph: M. T. Ludwick, Indium (Indium Corp. of America, Utica, N.Y., 1950). Review: Wade, Banister in Comprehensive Inorganic Chemistry vol. 1, J. C. Bailar, Jr. et al., Eds. (Pergamon Press, Oxford, 1973) pp 997-1000, 1065-1117; E. F. Milner, C. E. T. White in Kirk-Othmer Encyclopedia of Chemical Technology vol. 13 (Wiley-Interscience, New York, 3rd ed., 1981) pp 207-212.

  • MSDS

图谱

计算化学数据

  • 疏水参数计算参考值(XlogP):

  • 氢键供体数量 :

  • 氢键受体数量:

  • 可旋转化学键数量:

  • 拓扑分子机型表面积(TPSA) :

  • 重原子数量:

  • 形式电荷:

  • 复杂度:

  • 同位素原子数量:

  • 确定原子立构中心数量:

  • 不确定原子立构中心数量:

  • 确定化学键立构中心数量:

  • 不确定化学键立构中心数量:

  • 共价键单元数量:

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